相控陣校準測量
為各類相控陣測量提供完整解決方案，包括近場測量（平面/柱面/球面）、遠場測量、緊縮場測量，測試精度高，測試效率快。
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近場測量
近場測量
包括水平/垂直平面近場測量（單探頭、多探頭）、柱面近場測量、球面近場測量，可對待測產品近場空間幅相數(shù)據(jù)采樣，近遠場變換推算遠場方向圖數(shù)據(jù)。
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遠場測量
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緊縮場測量
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